تعداد نشریات | 25 |
تعداد شمارهها | 935 |
تعداد مقالات | 7,690 |
تعداد مشاهده مقاله | 12,565,520 |
تعداد دریافت فایل اصل مقاله | 8,933,813 |
اندازهگیری ویژگیهای اپتیکی غیرخطّی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی | ||
فیزیک کاربردی ایران | ||
مقاله 6، دوره 3، شماره 1، تیر 1392، صفحه 67-74 اصل مقاله (581 K) | ||
شناسه دیجیتال (DOI): 10.22051/jap.2014.1194 | ||
نویسندگان | ||
مهسا اطمینان* 1؛ فرشته حاجاسماعیلبیگی2؛ عطاءالله کوهیان1؛ یاسمن گلیان؛ اسماءالسادات معتمدی3 | ||
1دانشگاه تهران | ||
2پژوهشگاه علوم هستهای، تهران و فنون | ||
3پژوهشگاه علوم و فنون هستهای، تهران | ||
چکیده | ||
در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایهها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روبش- z محاسبه شده است. پیوسته با طول موج 532 نانومتر و توان 130 میلیوات استفاده کردیم. علامت و | ||
کلیدواژهها | ||
لایه نشانی لیزر پالسی؛ لایههای نازک نانوساختاری؛ ضریب جذب غیرخطی؛ ضریب شکست غیرخطی | ||
عنوان مقاله [English] | ||
Measurement of nonlinear optical properties of nanostructured copper and zinc thin films | ||
نویسندگان [English] | ||
Mahsa Etminan1؛ Fereshteh Hajesmaeilbeigi2؛ Ataollah Kouhiyan1؛ Yasaman Goliyan؛ Asmasadat Motamedi3 | ||
چکیده [English] | ||
In this study, nanostructure thin films of Cu and Zn are prepared bypulsed laser deposition (PLD) method and their nonlinear absorptioncoefficient and refractive index are studied by z-scan. The details ofPLD parameters are presented for both metals of Cu and Zn. A cwlaser beam at 532 nm and the output power of 130 mW was used in zscanexperiment. The sign and the magnitude of nonlinear absorptioncoefficient and refractive index of the nanostructure thin films aremeasured by z-scan curves. | ||
کلیدواژهها [English] | ||
pulsed laser deposition, nanostructure thin films, nonlinear absorption coefficient, nonlinear refractive index | ||
مراجع | ||
[1] D. B. Chrisey and G. K. Hubler; “Pulsed Laser Deposition of Thin Films”; Wiley-VCH. (2003) 648. [2] S. R. Friberg and P. W. Smith; “Nonlinear Optical Glasses for Ultrafast Optical Switches”; IEEE Journal of Quantum Electronics 23, No. 12 (1987) 2089–2094. [3] R. Adair, L. L. Chase, and S. A. Payne; “Nonlinear Refractive-index Measurements of Glasses Using Three-wave Frequency Mixing.” JOSA B 4, No. 6 (1987) 875–881. [4] M. Sheik-Bahae, A. A. Said, T. H. Wei, D. J. Hagan, and E. W. Van Stryland; “Sensitive Measurement of Optical Nonlinearities Using a Single Beam” IEEE Journal of Quantum Electronics 26, No. 4 (1990) 760–769. [5] K. Jamshidi-Ghaleh and N. Mansour; “Nonlinear Refraction Measure- ments of Materials Using the Moiré Deflectometry” Optics Communications 234, No. 1 (2004) 419–425. | ||
آمار تعداد مشاهده مقاله: 1,936 تعداد دریافت فایل اصل مقاله: 1,182 |